产地

中国

仪器制造商

多场低温科技（北京有限公司）

性能指标

样品腔温度范围: 4.2K~325K；样品降温至4.2K时间: 小于60分钟；温度控制稳定性: 优于±10mK；样品杆适用温度范围*:1.8K~400K，适用最大磁场*:18T；块体及薄膜测量样品托配备1只定标 Cernox 温度计，工作温度*:1.5K~400K，工作磁场*:最大 18T。热导精度:优于±5%；热导范围:10μW/Kto100mW/K；Seebeck精度:优于±5%；Seebeck测试范围:0.1μV/K-1V/K；比热测量精度:优于±5%；比热测量分辨率:10nJ/K；比热测试范围:1μJ/K-100mJ/K。