中国科学院 ARP系统 继续教育网 English 邮箱登录 网站地图
您现在的位置:首页>通知公告>学术报告
晶体元件微纳缺陷检测技术及应用
更新日期:2020-12-04  

   目:晶体元件微纳缺陷检测技术及应用 

  报告人:吴周令董事长 

   位:合肥知常光电公司 

   间:2020/12/06  13:30-15:00 

   点:纳米楼202会议室 

  吴周令,博士,合肥知常光电科技有限公司创办人、董事长兼首席科学家,超光滑表面无损检测安徽省重点实验室主任,国家级特聘专家,上海光机所特聘研究员。本科毕业于清华大学;研究生就读于浙江大学;1990年毕业于中科院上海光机所,获博士学位,发表论文120多篇,专利100余项。