中国科学院 ARP系统 继续教育网 English 邮箱登录 网站地图
测试中心

扫描探针显微镜实验室


仪器名称: 扫描探针显微镜(Scanning Probe Microscope,SPM)
仪器型号: Dimension Icon
生产厂家: Bruker
启用日期: 2016年4月
主要部件及功能指标:
  1.XYZ三轴闭环扫描器,XY方向达到90微米,Z方向达到10微米
  2.Z方向噪声水平:闭环控制<0.35A;XY方向定位噪音水平:闭环控制< 0.15 nm
  3.样品台:210 mm全自动样品台,可真空吸附,样品台可旋转,样品高度可达到20 mm
  4.光学视场范围180-1465μm,CCD分辨率达到1.5μm,可以自动聚焦及缩放
  5.加热冷却模块可将样品加热和冷却,范围:-35℃到250℃,分辨率为0.1℃
用途:
  获得各类样品表面形貌,构建三维立体图;分析样品微结构的尺寸、粗糙度,颗粒度等信息;可以得到样品微区软硬度、摩擦力以及粘弹性、杨氏模量等力学信息;获得磁性材料的表面形貌及磁畴结构;分析导电材料的I-V特性曲线,功函数等的电学信息。
实验室: 物理楼102
电  话: 0591-6317-9447
负责人: 潘丹梅 硕士,高级工程师